המעבדה לפיזור קרני איקס

השיטה העיקרית לאנליזה מבנית של חומרים וללימוד מאפייניהם המבניים היא פיזור קרני איקס (קרני רנטגן), הודות לדיוק שאין דומה לו במדידות פרמטרי הסריג הגבישי. המעבדה לפיזור קרני איקס מצויידת בציוד מודרני המאפשר אפיון מתקדם של מערכות של חומרים גבישיים השונות באופן ניכר זו מזו.

מערכת X'Pert Philips המצוידת בשפופרת קרני רנטגן אטומה, משמשת לאנליזת פאזות, לחקר כיווניות מועדפת של מישורים גבישיים ספציפיים, ולאנליזת מאמצים שיוריים של אבקות, חומרים רב-גבישיים ושכבות רב-גבישיות דקות. באמצעות מערכת זו ניתן גם למדוד את עקומות התנודה של הדגמים ע"י שימוש בגלאי-דגם במצב מדידה מפוצל ולקבל פרופילי פיזור בגיאומטריית זווית הצצה, המגדילה את רגישות הגילוי עבור שכבות דקות.

מבנים חד-גבישיים בשמושי מיקרואלקטרוניקה, אופטו-אלקטרוניקה ויישומים פונקציונליים נוספים, כלומר מבנים המהווים שכבות דקות כמעט מושלמות, מבנים הטרוגניים, סופר-סריגים ורב-שכבות נלמדים באמצעות מתקן לפיזור קרני רנטגן ברזולוציה גבוהה שבמרכז וולפסון למדעי ממשקי ביניים. מתקן זה משלב אנודה מסתובבת בעלת גנרטור Rigaku עם 18 כ"ס וגוניומטר רב-תכליתי מדויק מאוד מסוג Bede D3, והוא משמש למדידה המדויקת של פרופילי עומק של פרמטרי הסריג, המושפעים מהרכב הדגם, מפגמים נקודתיים ונמשכים, כמו גם משדות העיבורים בפני השטח. מיפוי דיפרקציית קרני X במרחב ההופכי מאפשר לנו להבחין בשינויים במישור ומחוץ למישור של המבנה הגבישי. מצב אפשרי נוסף בתפעול המערכת הוא החזרות קרני X בזווית הצצה, המספקת מידע על מרקם פני השטח ועל שינויים בצפיפות האלקטרונית מתחת לפני שטח של ממשקי ביניים קבורים של חומרים גבישיים ולא-גבישיים מגוונים, הכוללים זכוכיות ופולימרים.

רישום למתקני דיפרקציית קרני X ו-AFM